代理SINTERFACE Technologies TFA2 薄膜分析儀
微觀泡沫和乳液膜的形成、其行為的觀察和幾個(gè)物理化學(xué)參數(shù)的測量
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SINTERFACE Technologies TFA2 薄膜分析儀 原理基于著名的液膜壓力平衡技術(shù)。微觀泡沫和乳液膜是在改進(jìn)的 Scheludko-Exerowa 池中獲得的，該池專門設(shè)計(jì)用于在該儀器的緊湊架構(gòu)中實(shí)現(xiàn)最佳兼容性。薄膜厚度通過干涉測量。該儀器配備了數(shù)碼相機(jī)，可以同時(shí)觀察薄膜并測量其厚度，兩者均由現(xiàn)代 Windows 軟件控制。
SINTERFACE Technologies TFA2 薄膜分析儀 零件
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配備數(shù)碼相機(jī)的倒置顯微鏡和
– 單色光源
– 光傳感器模塊
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溫度控制測量單元有兩種修改，允許：
i)在恒定毛細(xì)管壓力下形成薄膜
ii)對(duì)薄膜施加外部壓力
– 壓力控制單元
