產(chǎn)品說明
當使用MetriCorr ICL系列設備時，必須配備ER探針以測定腐蝕速率并獲取電化學特征數(shù)據(jù)。該探針通過模擬涂層缺陷，測量暴露的試片元件與屏蔽參比元件的電阻值，并運用簡易算法計算探針厚度變化。
通過同步記錄腐蝕速率與電化學特征數(shù)據(jù)（如干擾工況下的參數(shù)），可實現(xiàn)對腐蝕效應的精準分析。所有關鍵參數(shù)（腐蝕速率、交/直流電位、交/直流電流密度及分布電阻）均在同一金屬表面測量，確保分析結果包含所有相互作用的化學與電化學反應。
ER探針適用于多種腐蝕環(huán)境監(jiān)測，多樣化的探針結構與外殼材質設計可滿足不同工況需求，并在整個使用壽命期間持續(xù)為運營者提供可靠的腐蝕與陰極保護數(shù)據(jù)。
最新款MetriCorr ERv2探針在插頭內(nèi)嵌存儲芯片，載有數(shù)字證書。當連接至MetriCorr Slimline ICL或ICL-C設備時，系統(tǒng)將自動讀取認證信息并立即進入測量就緒狀態(tài)。
產(chǎn)品特性
- 腐蝕速率監(jiān)測 —— 超高分辨率，可實現(xiàn)精準腐蝕診斷
- 試片測量 —— 交/直流電流密度、極化電位、分布電阻
- 嵌入式認證數(shù)據(jù) —— 無需紙質文件記錄
- 工程優(yōu)化設計 —— 特別適用于交/直流干擾腐蝕監(jiān)測
- 溫度補償系統(tǒng) —— 配備散熱器、參比電極及專利補償技術
- 堅固結構設計 —— 可適應土壤環(huán)境/高溫工況/海上作業(yè)
測量功能
? 腐蝕速率
? 瞬時斷電電位
? IR降補償電位
? 直流電流密度
? 交流電流密度
? 分布電阻
