jchadwick 光學(xué)深度測(cè)微計(jì),8600C,8600R Microset?,8600CK,8400K,光學(xué)深度測(cè)微計(jì)是一種可視化檢測(cè)顯微鏡，用于快速、準(zhǔn)確且可重復(fù)地測(cè)量小型表面缺陷（如凹坑和劃痕）的深度。
光學(xué)深度測(cè)微計(jì)套件
8600C 一體化套件
光學(xué)深度測(cè)微計(jì)
帶 X-Y 移動(dòng)平臺(tái)的實(shí)驗(yàn)室支架
AM7025X Dino-Eye Edge 目鏡相機(jī)
四腳測(cè)微計(jì)底座
偏置測(cè)微計(jì)底座
亞克力 V 型塊測(cè)微計(jì)底座
重量：32 磅，尺寸：22″x 18″x 12″
10 倍目鏡
10 倍物鏡
LED 手電筒
劃痕樣品板
內(nèi)襯泡沫滾輪便攜箱
8600R Microset? 升級(jí)組件
可輕松收納于 8600C 套件箱內(nèi)側(cè)袋
50 毫升分裝槍
50 毫升復(fù)制材料（2 支）
50 支/包 50 毫升混合噴嘴
100 張/包 背襯紙
可傾斜平臺(tái)底座
8600CK 升級(jí)組件（將 8400K 套件升級(jí)為 8600C 套件，適用于現(xiàn)有客戶）
帶 X-Y 移動(dòng)平臺(tái)的實(shí)驗(yàn)室支架
AM7025X Dino-Eye Edge 目鏡相機(jī)
內(nèi)襯泡沫滾輪便攜箱
偏置測(cè)微計(jì)底座
8400K 光學(xué)深度測(cè)微計(jì)
光學(xué)深度測(cè)微計(jì)
三腳測(cè)微計(jì)底座
四腳測(cè)微計(jì)底座
亞克力 V 型塊測(cè)微計(jì)底座
10 倍目鏡
20 倍目鏡
10 倍物鏡
4 倍物鏡
LED 手電筒
劃痕樣品板
內(nèi)襯泡沫便攜箱
重量：7 磅，尺寸：14″x12″x6″
國(guó)家?guī)齑婢幪?hào) (NSN)：6650 01 220 8942
GSA 合同編號(hào)：GS-24F-0043N
5500L 實(shí)驗(yàn)室支架
帶 X-Y 移動(dòng)平臺(tái)的測(cè)微計(jì)實(shí)驗(yàn)室支架
內(nèi)襯泡沫便攜箱
重量：22 磅，尺寸：20″x 16″x 8″
國(guó)家?guī)齑婢幪?hào) (NSN)：6640 01 625 9351
5500K 測(cè)微計(jì)實(shí)驗(yàn)室支架（無(wú) X-Y 移動(dòng)平臺(tái)）
4400M Microset? 表面復(fù)制套件
50 毫升分裝槍
50 毫升復(fù)制材料（5 支）
50 毫升混合噴嘴（50 支/包）
背襯片（50 張/包）
重量：14 磅，尺寸：20″x 16″x 8″
國(guó)家?guī)齑婢幪?hào) (NSN)：3610 01 680 3404
背襯紙（100 張/包）
可傾斜平臺(tái)底座
高腳架測(cè)微計(jì)底座
內(nèi)襯泡沫便攜箱
工作原理
光學(xué)測(cè)微計(jì)通過(guò)簡(jiǎn)單的聚焦方法來(lái)測(cè)量深度。首先，將測(cè)量的起始位置設(shè)定為受損區(qū)域旁邊的正常表面（表面 A），通過(guò)調(diào)整焦距使其清晰對(duì)焦。一旦對(duì)焦完成，按下按鈕將數(shù)字顯示器歸零。接下來(lái)，將焦點(diǎn)對(duì)準(zhǔn)受損區(qū)域的最底部（表面 B），讀取數(shù)字顯示器上的深度值即可。
關(guān)于凹坑規(guī)的問(wèn)題
球形劃針、凹坑規(guī)和探針雖然便宜且便攜，但卻非常不可靠。這些工具存在誤判和結(jié)果誤導(dǎo)的風(fēng)險(xiǎn)。無(wú)論是游標(biāo)型、模擬型還是數(shù)字型，它們都依賴于探針下落并接觸到下層表面，例如劃痕或凹坑的底部。
如果幾何形狀使探針無(wú)法到達(dá)最低點(diǎn)，凹坑規(guī)就會(huì)產(chǎn)生錯(cuò)誤的測(cè)量結(jié)果。此外，在非平整表面上，幾乎無(wú)法使凹坑規(guī)保持靜止并處于同一角度，從而導(dǎo)致重復(fù)性測(cè)量變得非常困難。
此外，能夠“看到”損傷本身也是一項(xiàng)額外優(yōu)勢(shì)，因?yàn)檫@有助于發(fā)現(xiàn)其他更嚴(yán)重、隱藏的結(jié)構(gòu)問(wèn)題，例如裸露的基底材料或源起裂紋。
是否可修復(fù)？微不足道、可修復(fù)，還是報(bào)廢？
正確的檢測(cè)工具能顯著降低成本，避免不必要的零件更換；而錯(cuò)誤的檢測(cè)工具可能帶來(lái)錯(cuò)誤或誤導(dǎo)性的結(jié)果，從而做出代價(jià)高昂或存在安全隱患的維修決策。
準(zhǔn)確且可重復(fù)的測(cè)量對(duì)于有信心地判斷損傷是否可修復(fù)至關(guān)重要。
在表面損傷檢測(cè)中，即使是微小的問(wèn)題，也可能對(duì)維護(hù)資源造成重大影響。
光學(xué)深度測(cè)微計(jì)
光學(xué)深度測(cè)微計(jì)是一種可視化檢測(cè)顯微鏡，用于快速、準(zhǔn)確且可重復(fù)地測(cè)量小型表面缺陷（如凹坑和劃痕）的深度。
適用于平面和曲面，也適用于多種材料，包括金屬、塑料、乳膠、復(fù)合材料、油漆、化學(xué)涂層、玻璃和其他透明材料。
帶 X-Y 平臺(tái)的實(shí)驗(yàn)室支架
適用于當(dāng)被測(cè)物體的表面幾何形狀不允許手持測(cè)微計(jì)搭配標(biāo)準(zhǔn)底座使用的情況。具有復(fù)雜形狀的支架就是一個(gè)典型示例。X-Y 平臺(tái)可以輕松、精確地將被測(cè)物體定位于視野范圍內(nèi)。
DINO-EYE? EDGE 目鏡相機(jī)
將目鏡替換為 Dino-Eye 相機(jī)，即可將光學(xué)測(cè)微計(jì)連接至筆記本或平板電腦，創(chuàng)建帶有詳細(xì)注釋和高分辨率圖像的電子檢測(cè)記錄。
Microset? 表面復(fù)制
Microset 復(fù)制材料為無(wú)法直接接觸的內(nèi)部表面（如螺紋孔及其他內(nèi)壁或內(nèi)徑）損傷的檢測(cè)提供了解決方案。
