美國(guó) DEK-TRON 刻痕彎曲測(cè)試儀 MARK-10系列

美國(guó) DEK-TRON 刻痕彎曲測(cè)試儀 MARK-10系列

參考文獻(xiàn):TAPPI T 829 om 08; TAPPI T 577 pm 08
該儀器的設(shè)計(jì)和制造專(zhuān)門(mén)用于進(jìn)行刻痕彎曲質(zhì)量測(cè)試 – 無(wú)需調(diào)整或更換部件或配件即可使用….。該儀器可精確評(píng)估刻痕板試樣的刻痕彎曲質(zhì)量。儀器測(cè)量材料樣品的剛度,并顯示其峰值結(jié)果。

這款精密儀器可在有電腦或無(wú)電腦的情況下使用。具有 RS-232 和 USB 接口,可與電腦通信??奢p松選擇峰值結(jié)果單位,以磅,千克和牛頓為單位顯示。


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